美國(guó)JCHADWICK 8400光學(xué)深度測(cè)微儀 光學(xué)千分尺

數(shù)字光學(xué)測(cè)微儀

在“維修還是更換”的決策過(guò)程中消除猜測(cè),有助于節(jié)省資源——通過(guò)識(shí)別那些可以安全維修并重新投入使用的部件,避免了不必要的更換成本。

光學(xué)測(cè)微儀既可作為手持設(shè)備使用,也可安裝在實(shí)驗(yàn)室支架上。它適用于平面和曲面,以及所有材料和表面處理,包括復(fù)合材料和透明材料??捎糜跍y(cè)量劃痕、缺口、毛刺、腐蝕坑、震紋、刻線、雕刻、標(biāo)記等的深度。

應(yīng)用與案例研究

工作原理
光學(xué)測(cè)微儀通過(guò)“對(duì)焦”來(lái)測(cè)量深度,即兩個(gè)點(diǎn)之間的垂直距離。

首先,在受損區(qū)域旁邊的完好表面(表面A)對(duì)焦,并將此作為測(cè)量的參考起點(diǎn)或“零點(diǎn)”。對(duì)焦完成后,按下按鈕將數(shù)字顯示歸零。

然后,將焦點(diǎn)對(duì)準(zhǔn)損傷區(qū)域的最底部(表面B),從數(shù)字顯示屏讀取損傷的深度。

技術(shù)信息

  • 精度:±0.001 英寸(0.02 毫米)

  • 測(cè)量范圍

    • 放大倍數(shù) 100X–200X:最大測(cè)量深度 0.2500 英寸

    • 放大倍數(shù) 40X–80X:最大測(cè)量深度 1.2500 英寸

  • 視場(chǎng)直徑:0.04″ – 0.18″

J CHADWICK 公司

我們?yōu)橐粋€(gè)可能對(duì)維護(hù)資源產(chǎn)生重大影響的問(wèn)題提供了簡(jiǎn)單的解決方案:通過(guò)測(cè)量表面損傷的深度,判斷其嚴(yán)重性、是否可修復(fù)以及是否符合適航標(biāo)準(zhǔn)。

別讓一道劃痕讓飛機(jī)停飛。我們的光學(xué)深度測(cè)微儀是一款手持式檢測(cè)顯微鏡,能夠現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量表面痕跡的深度。該功能可有效減少AOG(飛機(jī)停飛待料)時(shí)間和零件更換成本,通過(guò)快速識(shí)別仍在可修復(fù)范圍內(nèi)的部件,從而避免它們被誤報(bào)廢。