E84 手持測(cè)試儀
E84 Handheld Tester
E84 手持測(cè)試儀(E84 HHT)是目前最有效的工具,用于快速測(cè)試、故障排查和解決 E84 接口問(wèn)題。該工具為電池供電、集成設(shè)計(jì),包含了業(yè)界領(lǐng)先的 E84 仿真器中提供的自動(dòng)裝載與卸載測(cè)試程序,具備多項(xiàng)行業(yè)首創(chuàng)功能,能夠快速定位 E84 問(wèn)題的根本原因:
可測(cè)量每個(gè) E84 信號(hào)的電壓和電流
自動(dòng)化光學(xué)收發(fā)器測(cè)試
使用 GCI E84 DLD 和 RJ-11 光學(xué)收發(fā)器,實(shí)時(shí)顯示 E84 通信數(shù)據(jù)
GCI 的 E84 HHT 是一款專為 E84 維護(hù)、故障排查和設(shè)備安裝應(yīng)用而設(shè)計(jì)的便攜式解決方案。它集成了實(shí)時(shí)信號(hào)顯示、電壓與電流測(cè)量、測(cè)試結(jié)果存儲(chǔ)等多種功能于一體,操作簡(jiǎn)便。使用 E84 HHT,可快速排查 E84 接口問(wèn)題。
其配備的 SD 卡接口可將測(cè)試結(jié)果保存,并傳輸至 PC 進(jìn)行進(jìn)一步分析。此接口提升了結(jié)果的組織管理效率,并簡(jiǎn)化了結(jié)果轉(zhuǎn)存至 PC 的流程。測(cè)試結(jié)果以 ASCII 文本格式和與 GCI E84 分析應(yīng)用程序兼容的二進(jìn)制格式保存。使用 E84 HHT 進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)裝載和卸載周期測(cè)試時(shí),可查看 E84 信號(hào)的時(shí)序圖。
由于 E84 輸入輸出信號(hào)數(shù)量多、采用開(kāi)路集電極邏輯,使用普通萬(wàn)用表并不足以判斷故障原因。E84 HHT 提供的模擬電壓和電流測(cè)量功能更適合檢測(cè)導(dǎo)致 E84 接口故障的信號(hào)異常。
GCI E84 仿真器中提供的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) E84 測(cè)試套件也被集成到 E84 HHT 中。操作員現(xiàn)在可以在故障排查環(huán)境中執(zhí)行與設(shè)備驗(yàn)收測(cè)試時(shí)相同的一系列測(cè)試。
主要功能
菜單式操作界面
內(nèi)置紅外收發(fā)器
支持外接紅外收發(fā)器
顯示每個(gè) E84 信號(hào)的電壓和電流
自動(dòng)執(zhí)行主動(dòng)與被動(dòng)的裝載/卸載測(cè)試
手動(dòng)控制每個(gè) E84 輸出,同時(shí)監(jiān)測(cè)輸入/輸出狀態(tài)
自動(dòng)紅外收發(fā)器測(cè)試
連接 GCI E84 DLD 或 RJ-11 光收發(fā)器后可實(shí)時(shí)顯示信號(hào)
集成 GCI E84 仿真器測(cè)試套件
將測(cè)試結(jié)果保存至 SD 卡
按工藝設(shè)備編號(hào)(Process Tool ID)整理測(cè)試結(jié)果
可將 GCI E84 DLD 記錄數(shù)據(jù)上傳至 SD 卡
簡(jiǎn)單將數(shù)據(jù)和日志傳輸至電腦
使用 GCI E84 分析應(yīng)用程序分析數(shù)據(jù)
內(nèi)置時(shí)鐘和日歷
可充電電池
固件支持現(xiàn)場(chǎng)升級(jí)
規(guī)格
內(nèi)置符合 E84 標(biāo)準(zhǔn)的紅外收發(fā)器
主動(dòng)與被動(dòng) E84 電氣接口
DB-25 公頭(主動(dòng))與 DB-25 母頭(被動(dòng))連接端口
內(nèi)置可充電電池
SD 卡接口
RS-232 串口通信接口
尺寸:9.3″ × 4.9″ × 1.6″(236mm × 125mm × 41mm)
包裝清單
GCI E84 手持測(cè)試儀
2GB SD 閃存卡
15 英尺 DB-25 公母連接線
+15VDC 電源適配器(120VAC)
GCI 手持測(cè)試儀用戶手冊(cè)
測(cè)試功能說(shuō)明
裝載/卸載測(cè)試
使用內(nèi)置紅外進(jìn)行 Load(裝載)和 Unload(卸載)測(cè)試,模擬實(shí)際 E84 故障情況。如需更遠(yuǎn)距離通信,可使用外接紅外裝置。
E84 HHT 在交接過(guò)程中實(shí)時(shí)繪制信號(hào)圖,并提示裝載 FOUP 或卸載 FOUP,同時(shí)顯示倒計(jì)時(shí)。
測(cè)試結(jié)果存儲(chǔ)至 SD 卡時(shí)將包括測(cè)試設(shè)置(TA 和 TP 定時(shí)器設(shè)置、測(cè)試類型)、完成狀態(tài)和實(shí)時(shí)圖表。使用 E84 分析應(yīng)用程序可對(duì)時(shí)間圖進(jìn)行詳細(xì)分析。
光學(xué)收發(fā)器測(cè)試
連接光學(xué)收發(fā)器后執(zhí)行紅外測(cè)試,以判斷問(wèn)題是否出在收發(fā)器或工藝設(shè)備本身。
紅外測(cè)試可分別驗(yàn)證每個(gè)光學(xué)信號(hào),并生成匯總報(bào)告。還可分別顯示信號(hào)的通斷狀態(tài)下的電壓和電流值。
故障分析內(nèi)容包括信號(hào)之間短路測(cè)試、與地短路測(cè)試、信號(hào)斷開(kāi)測(cè)試。
測(cè)試結(jié)果保存至 SD 卡,包含所有電壓/電流數(shù)據(jù)、測(cè)試圖案結(jié)果和錯(cuò)誤信息,以 ASCII 文本格式記錄。
http://m.ayf.org.cn/getcontrolinc/Get Control E84 手持測(cè)試儀,快速測(cè)試,故障排查,解決 E84 接口問(wèn)題/