貝瑞克補(bǔ)償器（Berek Compensators）
產(chǎn)品概述
貝瑞克補(bǔ)償器是一種通過(guò)改變?nèi)肷浣嵌葋?lái)調(diào)節(jié)光程差和軸向取向的可變延遲器，可作為可調(diào)波片使用，也可用于延遲片的特性分析。我們的緊湊型aXiscope測(cè)試裝置無(wú)需額外設(shè)備即可直觀測(cè)定任意波片的慢軸方向和級(jí)數(shù)。
aXiscope視覺(jué)檢測(cè)裝置
aXiscope是一款用于檢測(cè)延遲片的可視化測(cè)試設(shè)備，其核心是在交叉片狀偏振片之間安裝了一個(gè)貝瑞克補(bǔ)償器。該設(shè)備通過(guò)環(huán)境光照下的近距離觀察使用，利用視場(chǎng)內(nèi)的視角變化實(shí)現(xiàn)調(diào)節(jié)（無(wú)移動(dòng)部件）。觀察時(shí)會(huì)看到一個(gè)具有對(duì)稱暗十字的特征彩色圖案：
- 中心最小值點(diǎn)指示零雙折射位置
- 插入待測(cè)延遲片會(huì)使最小值點(diǎn)外移至視場(chǎng)中與補(bǔ)償器光程差大小相等、符號(hào)相反的位置
- 由于方解石具有負(fù)雙折射性，連接這兩個(gè)暗點(diǎn)的直線即指示被測(cè)延遲片的慢軸方向
- 兩點(diǎn)間距可用于估算延遲片的光程差量值
技術(shù)規(guī)格
| 型號(hào) | 環(huán)形支架貝瑞克補(bǔ)償器 | aXiscope測(cè)試裝置 |
|---|---|---|
| 訂貨號(hào) | RKB 15.12 | RKB 15.12FL |
| 材質(zhì) | 方解石 | 方解石 |
| 光譜范圍 | 400-2200 nm | 400-2200 nm |
| 晶體厚度 | 1.5 mm | 1.5 mm |
| 通光孔徑 | 12 mm | 12 mm |
| 鏡座直徑 | 25 mm | 35 mm |
| 鏡座長(zhǎng)度 | 10 mm | 61 mm |
工作原理
補(bǔ)償器由單軸晶體的平面平行板構(gòu)成，晶體軸垂直于拋光表面：
- 正入射時(shí)無(wú)雙折射現(xiàn)象
- 傾斜表面法線與光束方向的夾角會(huì)產(chǎn)生延遲，且隨傾斜角增大而增加
- 軸向由傾斜方向決定
